Новости
23 мая 2016
Организатор: Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова Российской академии наук.
Основная тематика конференции
СЕКЦИЯ 1 «Структура и свойства высокопрочных и наноструктурных металлических и композиционных материалов»
СЕКЦИЯ 2 «Развитие методов исследования и моделирования структуры и свойств материалов и наноматериалов»
СЕКЦИЯ 3 «Функциональные керамические и композиционные наноматериалы»
СЕКЦИЯ 4 «Биомедицинские материалы и технологии»
СЕКЦИЯ 5 «Развитие физико-химических основ новых процессов получения и формования порошковых материалов и наноматериалов»
СЕКЦИЯ 6 «Физико-химические основы получения и обработки перспективных неорганических материалов»
СЕКЦИЯ 7 «Физико-химия и технология энерго-, ресурсосберегающих и экологически безопасных процессов получения черных, цветных и редких металлов»
СЕКЦИЯ 8 «Перспективные композиционные покрытия и наноструктурные пленки функционального назначения»
СЕКЦИЯ 9 «Физико-химические основы новых процессов формообразования и обработки давлением материалов и наноматериалов»
СЕКЦИЯ 10 «Перспективные полимерные материалы и композиты на их основе»
Проживание: Организационный комитет конференции не занимается размещением участников и осуществлением бронирования гостиницы.
Материалы конференции: К началу работы конференции будет издан сборник материалов, содержащий тезисы докладов. Электронный вариант сборника трудов и программы конференции будет размещен в INTERNET на сайте www.m.imetran.ru
Основное требование конференции: Автором устного или стендового доклада может быть только один молодой ученый в возрасте до 35 лет. Фамилии научных руководителей и консультантов в обязательном порядке должны указываться в тезисах в разделе «выражение благодарности»
Организационный взнос: Регистрация участников конференции, очное или заочное участие в конференции, публикация тезисов, личное получение трудов конференции – бесплатно.
Регистрация: предварительная регистрация и прием материалов тезисов проводится на сайте строго не позднее 1 июня 2016 года.
Сайт конференции http://www.m.imetran.ru