Методики
| Наименование методики | Наименование организации, аттестовавшей методику | Дата аттестации |
|---|---|---|
| Методика определения химического состава поверхности методом энергодисперсионного рентгеновского микроанализа | ||
| Методика очистки поверхности аргоновым ионным пучком (ионное травление) | ||
| Методика измерения коэрцитивной силы магнитных пленок и наноструктур | ||
| Методика измерения магнитной анизотропии тонких пленок и наноструктур | ||
| Методика исследования магнитной микроструктуры образцов | ||
| Методика измерения шероховатости поверхности образцов | ||
| Методы атомно-силовой микроскопии поверхности твердых тел | ДВГУ | 15.07.2009 04:00:00 |
| Методы исследования структуры сплавов и полупроводником в просвечивающем электронном микроскопе | ДВГУ | 02.04.2009 04:00:00 |
| Методы исследования структуры магнитных материалов в сканирующем электронном микроскопе | ДВГУ | 10.09.2008 04:00:00 |
| Методика получения фотоэлектронных спектров вещества поверхности с использованием высоковакуумной двухкамерной системы исследования химических соединений и поверхности комплексом методов электронной спектроскопии | ДВГУ | 20.10.2008 04:00:00 |